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测量原理:脉冲光激发光电效应非破坏无沾污可测量矽表面带氧化层通过脉冲光照快速判断
樣品尺寸:大於 30x30mm
測量範圍:可測試PN極性的樣品電阻率範圍: 0.1~1,000 Ω・cm