半导体
集成电路工艺
电阻率/PN性/少子寿命

四點探針探頭

  • 产品型号：4-point probe head
  • 制造原厂：Napson Corp.

Napson的高性能四探針探頭是由英國Jandel公司提供Jandel探頭針對矽片，外延層，擴散層，ITO層，金屬層及其他薄膜層提供高精度面電阻和電阻率測量，並且通過多年市場驗證。
       


  • 探針材料: TC [碳鎢合金] (或  OS: 鋨合金)

  • 半徑:  40 um   (25 um 至 500 um)

  • 載重 (g/針): 200ｇ　(10g 至 250g)

  • 針間距: 1.00 mm　 (0.5 mm 至 1.59 mm)

  • 針排列方式: 直線 (標準) (方形可選)
           


NAP-4-point probe head
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