相位雜訊測試儀

  • 產品型號:7000 Series
  • 制造原廠:Berkeley Nucleonics Corporation
  • 絕對和殘餘相位雜訊測量

  • 振幅雜訊測量

  • PULSED絕對和殘餘相位雜訊測量

  • 雙通道100 MHz FFT分析儀

  • 瞬態測量(頻率,相位,幅度vs時間)

  • 振盪器測試臺(調諧,推力,相位雜訊,電流,功率等)

  • 頻譜分析

  • 頻率計數器功能/功率計

  • 寬廣的頻率範圍,在一臺緊湊儀器中寬頻率範圍從5 MHz到40 GHz  偏移從0.01 Hz到100 Mhz的高速漂移模式(可測量調製,高漂移或不穩定的DUT等的能力)AM(絕對幅度雜訊)測量。

  • 兩個獨立的內部低雜訊電源包含脈衝測量功能 超低雜訊內部參考值或外部參考測量值可低至-188 dBc / Hz


  • 頻率範圍:5 MHz至26 GHz

  • 偏移量範圍:0.01至100 MHz

  • 測量速度:150ms

  • 輸入功率範圍:-15至+23 dBm

  • 不確定性:-3dB